Szukaj w działach:

Partnerzy

Newsletter

Nowe modele systemów wizyjnych FH Omron

Nowe modele systemów wizyjnych FH Omron

Firma Omron wprowadza na rynek nowe modele systemów wizyjnych FH z innowacyjną detekcją defektów SI.

System przetwarzania obrazu wykrywa drobne wady z czułością zbliżoną do oka ludzkiego, co umożliwia osiągnięcie wyższej skuteczności procesu kontroli jakości

Innowacyjna technologia SI (Sztuczna Inteligencja) do wykrywania defektów pozwala na identyfikację wad bez potrzeby wcześniejszego dostarczenia danych szkoleniowych. System opiera się na zdolności detekcji ludzkiego zmysłu wzroku i technikach wykwalifikowanych inspektorów. Niezawodnie wykrywa wady, które dotychczas były trudno dostrzegalne, dzięki automatyzacji inspekcji wizualnej wykonywanej przez człowieka.

Obecnie producenci muszą zmierzyć się z istotnym wyzwaniem: automatyzacją procesów opartych na analizie sensorycznej doświadczonych pracowników. Szczególnie w przypadku kontroli wizualnej kluczową rolę odgrywa niezawodna identyfikacja drobnych wad, nawet na elastycznych liniach produkcyjnych, gdzie wytwarza się szeroką gamę obiektów. Dotychczas decydujące znaczenie miała rzetelność i wiedza techników z długoletnim doświadczeniem. Jednak dziś, ze względu na zasady dystansu społecznego związane z pandemią COVID-19, niezbędne jest ograniczenie liczby pracowników w zakładach produkcyjnych, co prowadzi do wzrostu zapotrzebowania na ułatwiające pracę systemy zautomatyzowanej kontroli wizualnej. 

Sztuczna inteligencja potrafi już rozpoznawać cechy obiektów i ludzi, a także automatycznie przyswajać kryteria rozróżnienia. Niestety wiele rozwiązań SI nadal zmaga się z problemem zapotrzebowania na olbrzymią ilość danych; wymagają one również specjalnego środowiska i obsługi przez wykwalifikowanych inżynierów. Firmie Omron udało się jednak poczynić znaczne postępy w zakresie popularyzacji tej technologii.

Aby sprostać tym wyzwaniom, firma Omron opracowała pierwszy w branży algorytm SI służący do wykrywania defektów, oparty na technikach stosowanych przez doświadczonych inspektorów. Znalazł on zastosowanie w systemie wizyjnym serii FH. Najnowszy produkt to owoc ponad 30 lat dążenia firmy Omron do usprawnienia procesów przetwarzania obrazu i kontroli wizualnej SI, bez konieczności dostarczania dużej ilości danych treningowych. Dotychczas systemy SI wymagały specjalnego środowiska; wygodne rozwiązanie firmy Omron jest wbudowane w jeden z podzespołów systemu. Do zainstalowania i konfiguracji nie jest wymagana specjalistyczna wiedza inżynierska w zakresie sztucznej inteligencji.

Firma Omron dąży do wprowadzania innowacyjnych rozwiązań problemów występujących w zakładach produkcyjnych poprzez inicjatywę „innovative-Automation”. W miarę zbliżania się, a nawet przekraczania zdolności detekcji ludzkiego zmysłu wzroku, Omron wciąż gromadzi dane i prowadzi badania w celu rozwoju najnowszych technologii SI.


– Rozszerzając zakres automatycznej wizualnej kontroli jakości, uwalniamy ludzi od prostej i monotonnej pracy, poprawiając jednocześnie jakość i stabilność tego procesu – mówi Jan Nieswandt, kierownik ds. marketingu produktów w dziale Vision i RFID w Omron Europe.

 

Główne cechy i funkcje

1 - SI wykrywa wady z czułością zbliżoną do oka ludzkiego

  • Nowy filtr obrazu oparty na sztucznej inteligencji korzysta z techniki używanej przez wykwalifikowanych inspektorów do identyfikacji wady dowolnego produktu.
  • Zadrapania i skazy, dotychczas trudno dostrzegalne, obecnie można zidentyfikować nawet bez danych treningowych czy konfiguracji systemu.
Nowe modele systemów wizyjnych FH Omron

2 - SI identyfikuje prawidłowe produkty ze skutecznością doświadczonego inspektora

  • Seria FH pozwala na dostosowanie dopuszczalnego progu odchylenia od normy.
  • Narzędzie AI Fine Matching pozyskuje informacje z obrazów produktów nieuszkodzonych, co pozwala mu na szybkie zdobycie specjalistycznej wiedzy na poziomie wieloletniego pracownika. Automatyzacja pozwala obniżyć koszty i zwiększyć wydajność.
  • SI ogranicza nadmierną detekcję wad.
Omron_owe modele systemów wizyjnych FH z innowacyjną detekcją defektów SI_przykłady2


Nie wymaga specjalnego środowiska

  • Dotychczas technologie SI wymagały specjalnego, zaawansowanego środowiska. Wygodne rozwiązanie Omron opiera się na łatwych w obsłudze elementach kontrolno-pomiarowych wbudowanych w sprawdzony sprzęt z serii FH.
  • Nie ma zatem potrzeby instalowania specjalistycznego sprzętu czy obsługi przez inżyniera SI.


Źródło: Omron 


Dodano 15.10.2020
Podziel się
powrót

Newsletter

Powiązane:

Reklama

  • Reklama

  • Czasopisma

  • Targi

  • Newsletter

    Reklama

  • Reklama

    Reklama

    Wydarzenia

    Czasopisma

    Reklama

    Newsletter

    Partnerzy